电子邮件: zhangxiaopu@siom.ac.cn
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邮政编码: 201800
研究领域
薄膜材料科学与技术:
研究面向集成电路金属互连与薄膜光学元件应用。成果有集成电路先进制程铜薄膜材料制备、晶界和截交线等缺陷结构、局域薄膜应力源、薄膜结构演化和薄膜的力学行为;集成电路纳米互连等先进制造中金属薄膜的(原子级)可制造性与可靠性;面向集成电路图案化薄膜量测的导电金刚石涂层和探针技术与应用(Diamond Probes Technology https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-030-15612-1_11);研发超高真空调频多维扫描探针显微镜;基于微纳工艺制备金刚石薄膜光学元件等。长期从事企业驻校科研,曾获英特尔杰出研究奖。
联系方式:zhangxiaopuer@gmail.com, zhangxiaopuer@outlook.com
招生信息
招生专业
080502-材料学
招生方向
金属薄膜科学与技术
工作经历
2024-08~现在, 中国科学院上海光学精密机械研究所, 副研究员
2013-05~2024-07,企业驻校科研实验室, 项目负责人
2011-07~2024-07,都柏林圣三一大学, 博士后,研究员
出版信息
Selected publication:
[1] X. Zhang, M. Wang, H. Wang, M. Upmanyu, J.J. Boland, Restructuring of emergent grain boundaries at free surfaces – An interplay between core stabilization and elastic stress generation, Acta Mater 242 (2023) 118432. https://doi.org/10.1016/j.actamat.2022.118432
[2] X. Zhang, I. Demirel, J.J. Boland, Wedge disclination description of emergent core-shifted grain boundaries at free surfaces, Scripta Mater 234 (2023) 115562. https://doi.org/10.1016/j.scriptamat.2023.115562
[3] X. Zhang, J. Han, J.J. Plombon, A.P. Sutton, D.J. Srolovitz, J.J. Boland, Nanocrystalline copper films are never flat, Science 357(6349) (2017) 397-400. DOI: 10.1126/science.aan4797
发表论文
合作情况
Trinity College Dublin, RWTH Aachen University, City University of Hong Kong, et alia
指导学生
现指导学生
单海天 硕士研究生 085408-光电信息工程